紫外可見分光光度計/可見分光光度計       型號    DP-754

儀器簡介：

DP-754型紫外可見分光光度計適用于對紫外、可見光譜區(qū)域內(nèi)物質(zhì)的含量行定量分析，可廣泛應(yīng)用于廠、學校、冶金、農(nóng)業(yè)、食品、生化、環(huán)保、石油化、療衛(wèi)生等單位的基礎(chǔ)實驗室。

參數(shù)：

DP-754型紫外可見分光光度計參數(shù)： 
1. 帶寬：4nm 
2. 透射比準確度：±0.5%T 
3. 透射比重復性：±0.2%T 
4. 波長范圍：190～1100nm(步間隔0.1nm) 
5. 波長準確度：±1.0nm(開機自動校準) 
6. 波長重復性：0.5nm 
7. 測定范圍：T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F(xiàn)：0～9999，C：0～9999 
8. 雜散光：≤0.3%T(在220nm、340nm處)) 
9. 穩(wěn)定性/基線漂移：±0.002A/h 
10. 顯示器：128×64大屏幕液晶顯示 
11. 外形尺寸：456*375*220(mm) 
軟件能說明：DP-754型紫外可見分光光度計適用于數(shù)據(jù)處理軟件行實驗測試和數(shù)據(jù)處理

主要特點：

DP-754型紫外可見分光光度計產(chǎn)品特點： 
1. 自動波長，鍵盤輸入，波長設(shè)定和轉(zhuǎn)換更快速。 
2. zui多可建立12個標樣點的標準曲線，標定曲線擬合度，可保存50條曲線參數(shù)，可保存200條測試記錄。 
3. 系統(tǒng)時鐘管理，燈源管理，USB數(shù)據(jù)接口。 
4. 暗電流校正，波長校正，燈切換波長設(shè)置。